用途:该仪器是一种应用光学自准直成像测微原理,把角度量转换为线值量,由微型线位移光;栅传感器测出线值变化量的高精度测角仪器。可用于测量直线度、平面度、平行度、垂直度及其他相关位置关系的测量要素。 该仪器广泛应用于机械制造、计量、光学实验室、光学冷加工以及光学仪器的装调、检验等诸多领域。
| 联系方式：中国科学院光电技术研究所 | 联系人：张主任 |
| 电话：028-85101591 | 邮箱： |
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用途:该仪器是一种应用光学自准直成像测微原理,把角度量转换为线值量,由微型线位移光;栅传感器测出线值变化量的高精度测角仪器。可用于测量直线度、平面度、平行度、垂直度及其他相关位置关系的测量要素。 该仪器广泛应用于机械制造、计量、光学实验室、光学冷加工以及光学仪器的装调、检验等诸多领域。
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