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长光栅位移数字测量系统

来源: 发布时间:2016-03-24

本产品用于数显、数控机床的位置测量;光栅刻划机、长度测量机、计量仪器的位置数字测量;各种直线位移的数显及数控系统;旧机床数显改造,提高工效,提高精度。


性能:


本产品具有读数直观、迅速,体积小、功耗低、抗干扰强,可靠性高,安装方便,高分辨率,高精度、高工作速度,具有D/R,MM/IN转换,微机误差修正及简易数控功能。


联系方式:中国科学院光电技术研究所 联系人:李维一
电话:028-85100576 邮箱:

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